日本INTECS鹵素?zé)艄庠囱b置UIH-1C

 用于目視檢查的超亮照明裝置UIH-1C

 將高強(qiáng)度的光照射到物體（* 1）時，會發(fā)生傾斜現(xiàn)象，并且可以輕松地從視覺上確認(rèn)表面上的劃痕和碎屑，內(nèi)部的異物和氣泡。

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* 1：半導(dǎo)體晶片，掩模玻璃，硬盤，液晶面板，透鏡等！

 ＵＩＨ－１Ｃ型仕様

※１　ランプ保護(hù)の為、主電源スイッチをＯＦＦにしてもランプハウス內(nèi)の溫度が約40℃以下になるまで
　　　 ファンによる冷卻を保持する機(jī)能

通常，目視檢查半導(dǎo)體晶片，掩模玻璃等會發(fā)現(xiàn)劃痕，灰塵，內(nèi)部異物和氣泡。

發(fā)現(xiàn)需要技巧。開發(fā)該設(shè)備是為了方便進(jìn)行這些檢查。

通過用高強(qiáng)度的光照射物體（* 1），會產(chǎn)生切痕現(xiàn)象，并且會產(chǎn)生劃痕，灰塵等。

您可以檢查灰塵，內(nèi)部異物，氣泡等的附著力。

* 1半導(dǎo)體晶片，掩模玻璃，光學(xué)零件，透鏡等UIH-1C