更新時(shí)間:2024-08-03
通過晶體振蕩,曲面/球面對(duì)也可以實(shí)現(xiàn)高精度和短測(cè)量時(shí)間·測(cè)量值顯示為數(shù)字型,易于讀取·開啟時(shí)測(cè)量同時(shí)開始,測(cè)量時(shí)間小于1秒·高穩(wěn)定性(±1%)高精度· 石英振蕩法無損檢測(cè)·可直接讀取因?yàn)檗D(zhuǎn)換是不必要的日本電測(cè)膜厚計(jì)DS-110
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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通過晶體振蕩
,曲面/球面對(duì)也可以實(shí)現(xiàn)高精度和短測(cè)量時(shí)間
·測(cè)量值顯示為數(shù)字型,易于讀取
·開啟時(shí)測(cè)量同時(shí)開始,測(cè)量時(shí)間小于1秒
·高穩(wěn)定性(±1%)高精度
· 石英振蕩法無損檢測(cè)
·可直接讀取因?yàn)檗D(zhuǎn)換是不必要的
易于閱讀的數(shù)字類型
測(cè)量值顯示是數(shù)字的,易于閱讀。
可以立即進(jìn)行測(cè)量
可以在打開開關(guān)的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量時(shí)間也在1秒內(nèi)。
高穩(wěn)定性(±1%)高精度
通過晶體振蕩方法實(shí)現(xiàn)高穩(wěn)定性(±1%)的高精度。
可以檢查
由于它是非破壞性的,因此可以進(jìn)行檢查。
無需轉(zhuǎn)換
無需直接閱讀和轉(zhuǎn)換。
支持各種測(cè)量
它可以測(cè)量金屬上的薄膜,電鍍,涂漆,樹脂等。(例如:鋁上的氧化膜,鐵上的鋅電鍍等)
多可保存1000個(gè)數(shù)據(jù)
可以使用一條檢查線存儲(chǔ)1000個(gè)數(shù)據(jù)。
非金屬上金屬薄膜的測(cè)量
它可以測(cè)量非金屬上的金屬薄膜(例如塑料上的鍍層)。
標(biāo)準(zhǔn)可以多測(cè)量70種薄膜厚度
通過切換開關(guān),您可以測(cè)量多達(dá)四種類型的薄膜厚度。此外,通過更換制造商的檢查線,可以進(jìn)行70多種膜厚測(cè)量。
在曲面,球體或管道內(nèi)也可以進(jìn)行測(cè)量
也可以測(cè)量彎曲或球形體。另外,也可以測(cè)量管道等的內(nèi)表面(φ12.7mm或更大)。
打印輸出功能
您可以打印出測(cè)量數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)處理值。
當(dāng)具有高頻電流的探針(探針線圈)靠近金屬時(shí),在金屬表面中產(chǎn)生渦電流。該渦電流受高頻磁場(chǎng)的強(qiáng)度和頻率,金屬的導(dǎo)電性,厚度和形狀等的影響,并且穿透深度和其尺寸不同。 并且,由于渦電流流動(dòng)以抵消探頭的高頻磁場(chǎng),因此探頭的高頻電阻值發(fā)生變化。放大該高頻電阻值的變化,進(jìn)行曲線校正,并將其顯示為數(shù)字值。因此,膜厚度值可以直接讀作數(shù)字。通過微計(jì)算機(jī)計(jì)算執(zhí)行曲線校正。由于這種高精度,高穩(wěn)定性。 |
電源 | 使用AC適配器AC100V至240V |
重量 | 3.4千克 |
維 | 330(W)×90(D)×180(H)mm |
注意:規(guī)格如有更改,恕不另行通知。
1.探頭的效果范圍使用精密探頭時(shí) | Fai5mm Fai3mm |
2.探針線長(zhǎng)度 | 900毫米 |
3.根據(jù)導(dǎo)軌類型在曲面上測(cè)量 | |
4.探針類型 | MP型...用于平凸凹面(標(biāo)準(zhǔn)) SM型...用于平凸凹面(非常?。?br />RP型...凹面, SR型用于管道內(nèi)表面...用于 上述小直徑管內(nèi)表面的探針C和D有4種類型。 |
5.探針指南 | #180:用于平面測(cè)量 #120 :用于φ25-60mm 凸面測(cè)量#90:用于φ30mm或更小的凸面測(cè)量 |
日本電測(cè)膜厚計(jì)DS-110 日本電測(cè)膜厚計(jì)DS-110