更新時(shí)間:2024-07-31
EMIC愛美克紫外線強(qiáng)度計(jì)UV-D3EMIC愛美克 UV-D3 紫外線強(qiáng)度計(jì)磁粉探傷用補(bǔ)助機(jī)材
品牌 | 其他品牌 | 貨號 | UV-D3 |
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規(guī)格 | 1 | 供貨周期 | 一個(gè)月以上 |
主要用途 | 紫外線強(qiáng)度計(jì) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子 |
EMIC愛美克紫外線強(qiáng)度計(jì)UV-D3
EMIC愛美克紫外線強(qiáng)度計(jì)UV-D3
EMIC愛美克 UV-D3 紫外線強(qiáng)度計(jì)
ソーラーパネルの採用により、消費(fèi)電力大幅削減
0~45mW/cm2の超ワイドレンジ
ピークホールド機(jī)能により、測定者を選ばない
●蛍光探傷に必要な紫外線の強(qiáng)度測定
測定範(fàn)囲 | 0.00~45.00mW/cm2 |
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精度 | 0.00~6.00mW/cm2 : ±0.30mW/cm2 |
機(jī)能 | ?ピークホールド、ホールド |
外形寸法 | W95mm×D135mm×H27mm |
付屬品 | 収納ケース、取扱説明書 各1部 |
通過VMU-LB和固定倍率觀察用相機(jī)卡口的
組合,能夠?qū)ν晃恢靡圆煌堵释瑫r(shí)觀
察。
(低倍率側(cè):2/3型、高倍率側(cè):1/2型等)
通過與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合,可實(shí)現(xiàn)高精度、高
品質(zhì)加工。
與簡易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★保護(hù)膜、有機(jī)薄膜等的剝離
★金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露
★FPD的各種缺陷修正
★光掩模修正
★標(biāo)記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線
憑借長動(dòng)作距離設(shè)計(jì)的物鏡,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的操作性。
與定位器、探針臺等組合